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優(yōu)利德頻譜分析儀UTS3084T

優(yōu)利德頻譜分析儀UTS3084T

簡要描述:
優(yōu)利德頻譜分析儀UTS3084T是一款便攜式、功能多樣的頻譜分析儀,提供9kHz~8.4GHz的頻率測量范圍分辨率帶寬低至1Hz,擁有10.1英寸多點觸控顯示屏采用成熟的數(shù)字中頻技術(shù),頻率掃描點數(shù)高達40001 ,提供更高的分辨率。擁有頻譜分析、EMI、高級測量等多種工作模式可應用于電子制造業(yè)的功能/終端/質(zhì)檢測試,也適用于無線通信測量,射頻微波課程,電磁兼容預掃,半導體測量等眾多應用場景中。

更新時間:2023-10-13

瀏覽次數(shù):514

產(chǎn)品報價:62800

生產(chǎn)地址:深圳市

品牌UNI-T/優(yōu)利德產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領(lǐng)域化工,電子,電氣

優(yōu)利德頻譜分析儀UTS3084T是一款便攜式、功能多樣的頻譜分析儀,提供9kHz~8.4GHz的頻率測量范圍分辨率帶寬低至1Hz,擁有10.1英寸多點觸控顯示屏采用成熟的數(shù)字中頻技術(shù),頻率掃描點數(shù)高達40001 ,提供更高的分辨率。擁有頻譜分析、EMI、高級測量等多種工作模式可應用于電子制造業(yè)的功能/終端/質(zhì)檢測試,也適用于無線通信測量,射頻微波課程,電磁兼容預掃,半導體測量等眾多應用場景中。


優(yōu)利德頻譜分析儀UTS3084T概述

掃描點數(shù)高達40001
掃描點數(shù)高達40001
掃描點數(shù)高達40001
掃描點數(shù)高達40001

更多的掃描點可以提供更高的分辨率,捕捉更多不易發(fā)現(xiàn)的信號

高掃描點數(shù)顯現(xiàn)更佳測量效果
高掃描點數(shù)顯現(xiàn)更佳測量效果
高掃描點數(shù)顯現(xiàn)更佳測量效果
高掃描點數(shù)顯現(xiàn)更佳測量效果

精準捕捉掃頻信號,完整呈現(xiàn)掃頻過程

8種高級測量
8種高級測量
8種高級測量
8種高級測量

-通道功率

-時域功率

-占用帶寬

-三階交調(diào)

-鄰道功率

-頻譜監(jiān)測

-載噪比

-諧波


6條多彩跡線
6條多彩跡線

通過不同顏色的跡線清晰觀察比較改變RBW或檢波方式后的頻譜變化,多緯度觀測信號


優(yōu)異的相噪
優(yōu)異的相噪
優(yōu)異的相噪
優(yōu)異的相噪


-98 dBc/Hz@1 GHz,10 kHz offset,輕松測量更高速、抖動更低的時鐘源信號


多種檢波方式
多種檢波方式
多種檢波方式
多種檢波方式


提供正峰,負峰,采樣,標準,平均,準峰等多種檢波方式,層層篩選,便于分析不同類型的信號


選擇性<4.8:1
選擇性<4.8:1
選擇性<4.8:1
選擇性<4.8:1


更好區(qū)分鄰近頻率


瀑布圖
瀑布圖


可以直觀的查看定頻域內(nèi)各頻點的功率分量


激活選件分析
激活選件分析
激活選件分析
激活選件分析


-高級測量選件(AMK)

-跟蹤源選件(TG)

-模擬解調(diào)分析選件(AMA)

-數(shù)字解調(diào)分析選件(VSA)

-EMI測量選件(EMI)

專業(yè)、深入、全面


EMI測試應用
EMI測試應用



內(nèi)建CISPR帶寬和檢測器

自動掃描多個段

限制線和自動峰值/限制搜索

使用不同檢測器的最多3條跡線

記錄頻率顯示

使用三個檢測器在標記或感興趣的信號上進行實時測量



幫助菜單內(nèi)含SCPI
幫助菜單內(nèi)含SCPI
幫助菜單內(nèi)含SCPI
幫助菜單內(nèi)含SCPI


方便用戶進行二次開發(fā)控制

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